中国IEEE
关于我们 | 会员登陆 | 收藏本站 | 留 言 薄
 

 | 网站首页 | 电子知识 | 单片机知识 | 电路设计 | 微电子技术 | SCADA系统 | 资源下载 | 给我留言 | 谷歌商城 | 视频教程 | ieee | 
热门搜索关键字: 单片机教程 | 三极管 | 二极管 |  C语言汇编语言SCADA元器件模拟电子 |
cnieee.com baidu
栏目导航  
栏目更新推荐  
·离子植入(Ion Implant)…
·温总理审议通过微电子产业的国家重…
·半导体工艺流程
·中芯北京厂停产存储芯片或与引资有…
·半导体的电子能带结构
·半导体工艺中二氧化硅膜的作用
·半导体工艺中的超纯试剂
·什么是夜视技术
点击TOP(10)  
  • 此栏目下没有热点文章
  • 图片文章  

    微电子发展的几个技…

    集成电路制造中的关…

    肖特基二极管的检测
     
    您现在的位置: 中国IEEE中国电气电子工程师网 >> 微电子技术 >> 行业动态 >> 正文

    离子植入(Ion Implant)
    文章来源:中国科学院微电子研究所 点击数: 更新时间:2008-5-19 【字体:
    (欢迎光临中国IEEE,希望本文能对您有所帮助http://www.cnieee.com)


    相关文章:

    没有相关文章

  • 上一个文章:

  • 下一个文章: 没有了
  • 发表评论】【加入收藏】【告诉好友】【打印此文】【关闭窗口
     
    关于〖离子植入(Ion Implant)〗的最新评论:
    离子植入技术可将掺质以离子型态植入半导体组件的特定区域上,以获得精确的电子特性。这些离子必须先被加速至具有足够能量与速度,以穿透(植入)薄膜,到达预定的植入深度。离子植入制程可对植入区内的掺质浓度加以精密控制。基本上,此掺质浓度(剂量)系由离子束电流(离子束内之总离子数)与扫瞄率(晶圆通过离子束之次数)来控制,而离子植入之深度则由离子束能量之大小来决定。
    | 设为首页 | 加入收藏 | 联系站长 | 友情链接 | 版权申明网站地图 | 名站导航 | 管理登录 | 
    本站资源部分来自互联网,如侵犯您的权利,我们将予以删除  鲁ICP备08006092号
    本站欢迎同类网站做友情链接,QQ留言
    中国IEEE 中国电气电子工程师网 版权所有